Product & Service

半導體相關檢測

VSS無線振動記錄器

應用於無人搬運車、Wafer倉儲系統、Robot維修檢測以及半導體相關測試,可做趨勢、角度、頻譜分析。

Hi-Drop Tester II

高速電阻量測,最高可達每通道2 MS/s。應用:落下測試、可靠度測試、電路板衝擊測試等。

應力台

晶圓彎曲應力、軟板彎曲等半導體應變量測。

μ-Force

可量測微小力量、施加穩定微力。應用:探針下針力量監測、四點探針測試薄膜時力量監測、對MEMS元件施加微力後瞭解其IV特性等。

四點探針

量測半導體材料以及導電薄膜之薄膜電阻,可選擇單點量測獲多點掃瞄。

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