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Hi-Drop Tester II
Hi-DropTester II
落下測試資料記錄系統可加速測試效率：
Hi-Drop為巨克富科技研發出的一套針對PCB落下測試的專用高速多通道電阻量測系統，並符合JEDEC規範。Hi-Drop量測速度最高可達每通道1 MS/s，解析度可達16-bit並具備抗雜訊功能，可確保量測資料的準確性。系統可與落下測試機同步量測，各通道NG條件可獨立設定，並具備Event記錄功能，測試波型資料可自動儲存。
系統特色：
- 提供高速電阻量測，最高可達每通道1 MS/s。
- 採用PXI高規格的量測主機，最多可支援64-channel。
- 自動NG判定，符合JEDEC準則。
- 高精度且抗雜訊能力強大。
- 可與現有落下測試機整合，達到自動測試功能。
- 可結合加速規模組，執行高於10000 g落下之電阻與加速度量測。
- 可結合應變模組，同時量測電阻與應變資料。
- 及時分析Peak 加速度、速度、Duration。
- 可做多次Drop之趨勢分析。
- 資料即時顯示、收錄、分析、各式報表產出於一身，有效提高工作效率。
| 系統架構 | PXI Express |
NG即時判斷 |
| 機箱插槽數 | 8 | |
| 通道數 | 4N (N ≦ 16), Max. 64 channels | |
| 連續取樣速度 | Max. 50kS/ch (@16 ch) | |
| 觸發取樣速度 | Max. 1 MS/Ch | |
| 電阻量測解析度 | 16 bit | |
| 電阻量測檔位 | 100W, 1kW, 10kW, 100 kΩ, 1MΩ, 10MΩ*註1 | |
| 電阻波型紀錄 | 支援 | |
| 長時間連續錄 | 支援 | |
| 量測方式 | 連續擷取 或 外部觸發擷取 |
加速度、速度、Duration分析 |
| NG判斷條件 | 每通道獨立設定 | |
| 各通道Fail準則 | 彈性設定(X次Drop有Y次NG) | |
| 與落下試驗機同步觸發 | 支援 | |
| 濾波功能 | Low pass, High pass, Band pass | |
| 各通道濾波頻率獨立設定 | ||
| 統計運算 | 支援 | |
| 虛擬通道 | 支援 | |
| 圖表格式 | Y-T Graph, X-Y Graph, Bar Chart, Trend | |
| Event歷程紀錄 | 支援 | |
| 報表輸出格式 | EXCEL, ASCII |
Drop之趨勢分析 |
| 外部觸發模組 | 高速光電感測器/磁感測器 | |
| 高g值加速度模組(Option) | 支援IEPE或Charge或Bridge Type加速規 | |
| 分析Peak 加速度、速度、Duration | ||
| 多次Drop之趨勢分析 | ||
| 自動回饋調整落下高度(Option) | 支援 | |
| 支援語言 | 英文 | |
| 螢幕機本需求 | 1280×768 resolution | |
| 支援作業系統 | Windows XP, WIN7, WIN8, WIN10 |
*註1: 測試電壓可提升至10V時，量測範圍可達10 MΩ
選配項目： 高g值加速規：10000 g、20000 g
加速度量測模組：1M S/s速度、1通道 (會佔用1-ch電阻量測通道)
應變量測測模組：100 kS/s/Ch速度、8通道
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