在微機電、奈米科技或生物科技的研究上遇到瓶頸,無法量測或施加穩定微小力,導致進度停滯不前。或是使用探針對Wafer或薄膜做量測時,下針時的力量影響測試結果卻不知如何是好。
使用巨克富開發的μ-Force微力系統,便能夠解決您的問題。除了量測、施加力量的功能,也提供軟體同時間監測兩通道之微力變化。應用案例包含:探針下針力量監測、四點探針測試薄膜時力量監測、對MEMS元件施加微力後瞭解其IV特性等。
μ-Force微力系統輕鬆量測、施加微小力,讓您的研究不再卡關。
可搭配市售四點探針座或四點探針台使用。
可量測及施加穩定微小力。
量測解析度最高達0.5mg。
提供量測軟體,可同時監測兩通道微力變化。
搭配四點探針量測系統,輕鬆量測薄膜電阻(Sheet Resistance)
Interface | USB 2.0 | Connector type | 9-Pin D-Sub |
Sampling rate | 800,400,200,1000,40,10 (雙通道速率:200,100,50,25,10) |
Cable | 1 m |
Range | Type1:100g Type2:20 | 系統標準配備 | u-Force感測器,Bridge DAQ量測裝置,USB轉接線1.8m,9-Pin端子盒,軟體光碟 |
Resolution | Type1:10mg Type2:0.5mg | 量測軟體 | 數值與曲線顯示,儲存(CSV格式) |
Channel | 1 or 2 | 支援作業系統 | Windows XP, Win7, Win8, Win10 |
Shunt cal | 內建 | 選購件 | 探針座,探針座轉接板 |
Dimensions
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