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OLED測試系統
輕鬆做好OLED量測：
OLED I-V-L量測系統可提供高速量測，並提供OLED光譜特性曲線資料，經過計算分析可得完整測試數據，例如:輝度、顏色座標、演色性、外部量子效率等，可提供研發階段產品參數及配方調整之參考，也可以做為生產線品管的依據，藉此提昇產品的品質及可靠度。依照每一個測試品之Pixel數量不同，可提供手動切換測試Pixel功能，讓測試更為便利，測試治具還可在手套箱(Glove Box)內使用。
系統特色：
- 高速的量測速度，可放置於手套箱(Glove Box)內量測。
- 可取得I-V-L光譜特性測試數據資料。
- 測試資料提供多種即時顯示圖表選擇。
- 內建顏色座標計算功能。
- 內建演色性及外部量子效率分析功能。
- 量身訂作測試盒，可確保試片與黑箱完全密合。
- 提供手動切換測試點功能。
| 型號 | OLED I-V-L |
| 輸入電源 | 110 Vac |
| 機箱尺寸 | 19”4U |
| 介面 | USB 2.0 |
| 通道數 | 1 |
| 量測波長範圍(nm) | 380~780 |
| 波長解析度(nm) | 1 |
| 電壓電流量測模式 | 四線式 |
| Power output | 20 W |
| Current Capability | ±1.0 A |
| Voltage Capability | ±20 V |
| Basic Accuracy | I: 0.055%+6μA @ 100 mA V: 0.015%+1.5 mV @ 20V |
| 固定式治具盒(選購) | 1組 (依sample量身訂作) |
| 測試Pixel切換 | 三通道切換 |
| 訊號穩定偵測功能 | 支援 |
| 量測與分析項目 | 電壓Voltage(V) 電流Current(A) 光譜Spectrum 峰值波長Peak wavelength (nm) 輝度Luminance(cd/m2) 電流密度Current density(A/m2) 發光效率Yield(cd/A) 發光功率效率Luminous power efficiency(lm/W) 顏色座標CIE x, y、CIE u’, v’、 相關色溫Correlated Color Temperature(K) 演色性Color rendering index Ra(%) 外部量子效率External Quantum Efficiency(%) |
| 量測模式 | 電壓Sweep / 電流Sweep / Manual |
| 校正功能 | 支援 |
| 存檔格式 | ASCII |
| 支援語言 | 英文,繁體中文 |
| 電腦基本需求 | CPU:P4, RAM:1GB, HD:1GB, USB 2.0 |
| 螢幕基本需求 | 1280*800 resolution |
| 支援作業系統 | Windows XP, WIN 7 |
選配項目：
- Fixture box : FB01
- 校正光源：CL01
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