巨克富科技 Chief SI Co., Ltd.
 
 
 
應變量測系統
振動量測系統
半導體相關量測
OLED
NVH
高效能記錄器
車輛相關檢測系統
動力計系統
CAN Bus
Gear Box
無線量測設備
可靠度量測系統
感測器
訓練課程
綜合型錄
 
 
 
  ENGLISH VERSION回首頁
四點探針

 

四點探針量測系統:
快速而直覺化的四點探針薄膜電阻量測系統:
運用四點探針測量原理,量測各式片狀、塊狀之導體、半導體材料以及導電薄膜之薄膜電阻(Sheet Resistance,又稱薄層電阻、亦稱片電阻)。搭配高精度的四點探針台以及快速準確的SMU(Source Measure Unit),可輕易量得材料之薄膜阻抗,並廣泛應用於半導體、太陽能、OLED、微機電、燃料電池等各式產業上。
 
系統特色:
  • 方便易上手、直覺化的軟體操作介面。
  • 精密量測待測物之薄膜電阻
  • 定電流量測。可選擇單點量測獲多點掃瞄。
  • 已知薄膜厚度之情況下,同時推算出體電阻率(Bulk Resistivity)與電導率(Couductivity)。
  • 採用.CSV檔案儲存格式,方便使用者進行資料處理。
  • 預設搭配Keithley 2400 SMU。亦可依使用者需求搭配各式,配合各式SMU與微、高阻計客製化操作軟體。

 規格:

Chuck size
6”,8”,12”
Measure item
Sheet Resistance,Bulk
Resistivity, Conductivity
Sample geometry
Circle or Square
Interface
RS-232 or GPIB
Head Up/Down
16mm
Language
English
Correct factor
Thickness & Geometry
PC Requirements
CPU:P4,HD:1GB,USB2.0
Probe Pin Material
BeCu(or Tungsten Carbide)
Monitor Requirements
1280*800 resolution
Probe Pin Spacing
40mil,50mil,62.5mil
O.S. Supported
Windows XP,WIN7
Probe Pin Spring
45grams,85grams,180grams
SMU Support
Keithley 2400/2401

 

產品規格
 
巨克富科技有限公司 新竹縣芎林鄉五龍村五和街196號  電話:03-5936268  傳真:03-5936228  網站設計/KissDesign   Job Offer Map Contact us